使得EMI对策更高效化
针对电子设备开发过程中不可或缺的EMC测试,本系统具有进行前期预测试・确定噪声源位置・对策前后效果对比的功能。
通过对相机所拍摄图像中的色彩进行判定,以此来检测电磁场探头的位置*,然后将所测得的信号进行实时频率解析,同时将被测的实物图和实时电磁场强度叠加在一起以热图的形式展现出来。
* ： 根据国立大学法人 金泽大学 专利 2007-223275　以及 株式会社噪声研究所 专利5205547的位置探测方法。

EPS-02EMFv2可以保存所测磁场的频率数据，因此很容易就能定位到对策点。
EPS-02Hv2可以将磁场探头测定位置处的数据直接可视化。
同时非常小巧便于携带，适合在问题现场进行测试，十分便捷。